基于STM32的智能参数测试仪的设计方案

　　0 引言

　　产品检测是生产厂家和用户都关心的问题。在产品生产过程中，检测是必不可少的一部分，有的还是工艺过程的一道工序。电磁继电器是电力系统以及其他电气控制系统中常用的开关元件，它们的可靠性是电力系统和其他电气控制系统可靠运行的重要保证，因此，必须对继电器的特性参数进行准确的测试。电磁继电器的电气参数主要有线圈电阻、触点接触电阻、吸合电压、释放电压、吸合时间、释放时间等。这些参数对研究继电器可靠性、动态性能具有重要意义，是保证其质量特性的重要参数。

　　1 系统总体架构

　　1.1 系统硬件结构

　　系统硬件主要包括UART 串口通信模块、JTAG 接口模块、测试结果显示模块、检测程序存储模块FLASH、检测电路模块以及SRAM 模块。系统总体硬件结构框图如图1 所示。

　　

　　1.2 系统微处理器

　　本系统主要由检测部分和显示控制部分组成。在本设计中，采用了高性能的ARM Cortex 芯片STM32F103ZET6.

　　该芯片内部采用哈佛结构，其中集成有64 KB 的RAM 和512 KB FLASH，并且具有运算速度快、体积小和低功耗的特点，完全能满足本设计的要求。Cortex-M3 是一个32 位的核，它采用的是Tail-Chaining 中断技术，最多可减少12 个时钟周期数，基于硬件进行中断处理，通常可减少70% 的中断。Cortex-M3 还采用了新型的单线调试（Single Wire） 技术，可对独立的引脚进行调试。

　　1.3 系统工作流程

　　系统上电后，首先完成对各个寄存器的初始化工作，然后等待开始检测命令；单击上位机界面上的START 命令，然后上位机给单片机发送开始检测命令；单片机接到开始命令后开始向检测电路发送检测命令，然后单片机处理检测电路发回的数据，得出继电器的各个参数，通过串口把这些参数显示在上位机的界面上。

　　2 系统硬件设计

　　2.1 驱动电压的设计

　　为了准确测出继电器的吸合电压，必须得到一个从0 开始按照一定量增大的电压源，每次增大的电压量越小，测试的结果越准确，但是所要求的电路也越复杂，所以我们必须根据实际的要求在这中间找到一个平衡点。图2 所示为系统驱动电压电路。

　　

　　图2 中，TL431用于给TLC5615 提供2.5 V 的基准电压源，DA_DIN 是串行数据输入端，DA_CS 是低电平有效的片选信号输入端，DA_SCK 是串行时钟输入端，DOUT 是用于级联的串行数据输出端，OUT 是DAC 模拟电压输出端，输出模拟信号。由于从TLC5615 输出的模拟信号很小，不能驱动继电器，所以，本设计在后面又加上了放大电压电路和放大电流电路。

　　2.2 集成切换网络的设计

　　本系统的集成切换网络是利用继电器的开关工作原理完成的，利用单片机发出的不同指令控制继电器的闭合，从而切换到不同的测试电路模块。在测试吸合/ 释放电压时，首先ARM Cortex 发出测试参数为吸合/ 释放电压的指令。集成切换网络根据指令，切换到Prog_v 一侧，XQ1I 连接所测继电器触点一端，具体电路如图3 所示。

　　

　　2.3 数据处理及与上位机的通信

　　接收到的数据通过异步串口管脚与3.3 V 转换芯片MAX232 相连，外接串口线同PC 机进行通信，接收和发送数据，STM32 作为下位机负责接收上位机的指令以及控制各部分电路并处理数据，然后向上位机发送数据，PC 机接收数据，并通过VC 编程把接收的数据通过界面显示出来。这里PC 机的VC 通过串口发送命令给STM32，主控芯片接收命令并判断有效，即可开始控制电路进行工作［6］。由于篇幅所限，本文未对STM32 的最小系统硬件部分作详细说明。