怎样判断晶振的好坏

1、万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电。

2、试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的。反之，则说明晶振损坏。

3、数字万用表的电容档测量其电容，一般损坏的晶振容量明显减小。

小窍门：就是弄一节15V的电池接在晶振的两端把晶振放到耳边仔细的听，当听到哒哒的声音那就说明它起振了，就是好的。

扩展资料

晶振在应用具体起到的作用，微控制器的时钟源可以分为两类：基于机械谐振器件的时钟源，如晶振、陶瓷谐振槽路；RC（电阻、电容）振荡器。一种是皮尔斯振荡器配置，适用于晶振和陶瓷谐振槽路。另一种为简单的分立RC振荡器。

基于晶振与陶瓷谐振槽路的振荡器通常能提供非常高的初始精度和较低的温度系数。RC振荡器能够快速启动，成本也比较低，但通常在整个温度和工作电源电压范围内精度较差，会在标称输出频率的5%至50%范围内变化。但其性能受环境条件和电路元件选择的影响。需认真对待振荡器电路的元件选择和线路板布局。

在使用时，陶瓷谐振槽路和相应的负载电容必须根据特定的逻辑系列进行优化。具有高Q值的晶振对放大器的选择并不敏感，但在过驱动时很容易产生频率漂移（甚至可能损坏）。影响振荡器工作的环境因素有：电磁干扰（EMI）、机械震动与冲击、湿度和温度。这些因素会增大输出频率的变化，增加不稳定性，并且在有些情况下，还会造成振荡器停振。上述大部分问题都可以通过使用振荡器模块避免。

这些模块自带振荡器、提供低阻方波输出，并且能够在一定条件下保证运行。最常用的两种类型是晶振模块和集成RC振荡器（硅振荡器）。晶振模块提供与分立晶振相同的精度。硅振荡器的精度要比分立RC振荡器高，多数情况下能够提供与陶瓷谐振槽路相当的精度。

参考资料：

百度百科晶振

1、用带频率计的数字万用表;
2、用频率计;
3、用数字示波器。
以上几种方法都是直接测量，其中用万用表测量较简便。当然，用万用表测量时晶振的频率要在万用表的量程范围内才行。
望采纳，我们是凯越翔电子，有问题欢迎咨询。

　1用万用表（R×10k挡）测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电。再将试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的，若氖泡不亮，则说明晶振损坏。
2用数字电容表（或数字万用表的电容档）测量其电容，一般损坏的晶振容量明显减小（不同的晶振其正常容量具有一定的范围，可测量好的得到，一般在几十到几百PF值。
3贴近耳朵轻摇，有声音就一定是坏的（内部的晶体已经碎，还能用的话频率也变了）
4测试输出脚电压。一般正常情况下，大约是电源电压的一半。因为输出的是正弦波（峰值接近源电压），用万用表测试时，就差不多是一半。
5用代换法或示波器测量。
晶体与晶振的检测方法与技巧
如何用万用表测量晶振是否起振
可以用万用表测量晶振两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是5V则测出的是否是25V左右。另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的。
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将晶体从PCB上拆下，用万用表R×10k挡测量引脚两端，好的晶体应为无穷大。但这样也只能测量晶体的绝缘电阻，仅此而已。事实上，晶体的绝缘电阻大于500MOhm，这个级别的绝缘万用表也是测量不了的。真要想测量绝缘电阻，需要用到绝缘电阻测试仪。

搭一个振荡电路，用频率计和示波器测量。这已经是业余条件下，最好的选择了。但也只能判断晶体能够起振及简单的判断起振幅度。更多的石英晶体谐振器的特性和参数仍然测量不到。而且由于振荡槽路上的误差及激励电平不能准确的设定，还是没有办法判断晶体的准确谐振频率值。

使用阻抗计测量。正如网友“pizeoelect”所说，阻抗计相比较而言，价格较低，而且能准确设置激励电平和测量频率，是个不错的选择。但测量精度有限，而且看不到晶体的特性，现在已经很少有人使用。

网络分析仪测量。根据国际电工委会对石英晶体谐振器的定义，如果想要真正测量到晶体的特性参数，最常用的方法，就是使用网络分析仪测量了。目前大多数人常用的仪器主要是Saunders andAssociates, Inc公司的250B网络分析仪。但你的测量测量结论需要专业机构认证，那么你就还得用到Agilent的E5100之类的网络分析仪了。如果你需要测量温度特性，你还得需要配一个高低温箱才行。具体测量方法请参考如下文献：

一 Saunders andAssociates, Inc Load resonantmeasurements of quartz crystals [EB/OL] >

至于你说的“用万用表串接一个高频电容来检测”根本就不可能。你想想，晶体频率少则几M，高则几十M什么样的万用表能够测量这么高频率？另外，电路振荡是有条件的，不是一个电容就能解决的。希望你能明白。

用示波器就可以

我们将示波器通道设置为交流耦合，10X档位。确保晶振主板上电运行后，拔掉探头的套子，露出探针。将探头夹子接到主板地线即供电负极端，探针针尖接触到晶振的其中一个引脚。

调节示波器的垂直档位和时基，使波形至少一个周期完整显示于屏幕中，如下图所示此晶振频率为25MHz

示波器负探头接地，正探头接晶振的正端，示波器会有相关频率的正弦波和频率值。晶振两端接在那边没有区别。

探棒的电容会影响振荡，要用对探棒。至少要用 10X 探棒，以减少影响。但有时可能连 10X 探棒也会影响，需要用合适的主动探棒，或是测量系统其他输出作间接判断，又或是用个逻辑闸作缓冲器，又或在探棒输入串个小电容等等，以减轻测量的影响。

同样的探棒，接 OSCOUT(OSC2,XTAL2) 时的影响较小, 接 OSCIN(OSC1,XTAL1) 时的影响较大，更容易造成停振。因此，不要碰 OSCIN，只要测 OSCOUT 有信号就可以了。

扩展资料：

1、总频差：在规定的时间内，由于规定的工作和非工作参数全部组合而引起的晶体振荡器频率与给定标称频率的最大频差。

说明：总频差包括频率温度稳定度、频率温度准确度、频率老化率、频率电源电压稳定度和频率负载稳定度共同造成的最大频差。一般只在对短期频率稳定度关心，而对其他频率稳定度指标不严格要求的场合采用。例如：精密制导雷达。

2、频率温度稳定度：在标称电源和负载下，工作在规定温度范围内的不带隐含基准温度或带隐含基准温度的最大允许频偏。

fT=±（fmax-fmin)/(fmax+fmin)

fTref =±MAX[|（fmax-fref)/fref|，|(fmin-fref)/fref|]

fT：频率温度稳定度（不带隐含基准温度）

fTref：频率温度稳定度（带隐含基准温度）

fmax ：规定温度范围内测得的最高频率

fmin：规定温度范围内测得的最低频率

fref：规定基准温度测得的频率

说明：采用fTref指标的晶体振荡器其生产难度要高于采用fT指标的晶体振荡器，故fTref指标的晶体振荡器售价较高。

3、频率稳定预热时间：以晶体振荡器稳定输出频率为基准，从加电到输出频率小于规定频率允差所需要的时间。

然而在某些应用中晶体振荡器需要频繁的开机和关机，这时频率稳定预热时间指标需要被考虑到（尤其是对于在苛刻环境中使用的军用通讯电台，当要求频率温度稳定度≤±03ppm(-45℃～85℃），采用OCXO作为本振，频率稳定预热时间将不少于5分钟，而采用DTCXO只需要十几秒钟）。

参考资料来源：百度百科-晶体振荡器

参考资料来源：百度百科-示波器

这个提问有点简单，是测有源晶振呢还是无源晶振呢，是测晶振能不能工作呢还是测晶振的可靠性呢。
如果只是测晶振能不能工作，有源晶振较简单，按要求接上电源，测一下有没有频率输出就行了。无源晶振一般要用专门的测试仪器或搭建专门的测试电路。
如果是要测晶振的可靠性，这个比较复杂，大多数的晶振厂家都没有这些测试设备的，一般是委托实验室进行测试的。

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