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使用新型MEMS开关加快测试能力并提高系统产出
【导读】先进的数字处理器IC要求通过单独的DC参数和高速数字自动测试设备(ATE)测试,以达到质保要求。这带来了很大的成本和组织管理挑战。本文介绍 ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次
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ATE引脚电子器件的电平设置DAC校准
【导读】本文提供一种校准数模转换器(DAC)的方法,专用于引脚电子器件驱动器、比较器、负载、PMU和DPS。DAC具有差分非线性(DNL)和积分非线性(INL)等非线性特性,我们可以通过增益和偏置调整
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自动测试设备(ATE)系统中选择器件电源(DPS)IC的指南
器件电源(DPS) IC具有灵活的电压驱动和电流驱动容量,能够为自动测试设备(ATE)提供动态测试能力。当负载电流介于两个设定限流值之间时,DPS IC可以作为电压源;在达到设定限流值时,DPS IC
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ate是哪个国家的品牌?
【导读】:ATE当专业人士谈论制动技术时涌现的品牌往往是ATE。那是因为公司在产品开发方面投入了大量的努力和经验。汽车修理厂,经销客户和汽车制造商均知道为什...ate是德国品牌。ATE当专业人士谈论
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深度解读基于ATE的IC测试技术
随着科学技术的发展,IC产业得到了快速的提升,IC的制造复杂度也变得更加严格。IC测试也面临了很多的挑战,最为典型的就是测试的精确度及稳定性。尤其在量产ATE测试时表现更为严重,那我们如何去避免由于测
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基于ATE高效测量射频到基带噪声指数详解
噪声指数(Noise Figure)主要测量的是组件的信噪比(Signal-to-noise RaTIo, SNR)性能,信噪比是误码率(BER)和载波噪声比(CN)等大部分数字通信参数的基础。以
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ATEstar通用测试平台管理系统
ATEstar通用测试平台采用通用性和多线程的设计思想,研制一种通用测试平台管理系统,具体实现分为配置和运行两大部分。配置包括数据输入定义和显示存储定义等功能。运行根据配置参数按照预定测试流程完成设备
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ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍
随着生活水平的提高,人们对电子消费产品的品质,功能,要求也越来越高。现在各大OEM,ODM厂家为了提高产品品质,优化生产线,降低人力成本,提高企业竟争力,纷纷购进ATE自动化测试系统。ATE自动测试系
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基于PXI架构打造低成本半导体测试系统
在摩尔定律的发展极限之下,产生更多装置连结与资料分析的需求。也由于物联网与智慧手机的发展,使得类比与RF讯号更显得重要。未来的讯号,将不再以纯类比讯号为主,而是更为复杂的类比与RF混合讯号,这使得传统
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NI使用ATE核心组件配置,帮助降低测试系统设计和部署成本
新系统组件和机架模组有助于简化标准化,降低集成风险,缩短上市时间新闻发布– 2017年5月23日 – NIWeek – NI(美国国家仪器,NaTIonal Instruments,简称NI)作为致力
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自动测试设备(ATE)系统中的示波器需求
在测试电子器件时,很难不提到示波器所具有的通用性。为了对电子电路进行验证,工程师需要能够查看和测量其设计中的信号。自动测试设备(ATE)通常不提供大量可视化故障诊断,这对于必须安装、校准并对系统进行故
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【一周投融资】中芯国际出售子公司中芯长电全部股权;地平线获韦豪创芯战略投资
中芯国际出售子公司中芯长电全部股权4月23日消息 中芯国际发布公告称,拟转让所持控股子公司SJ Semiconductor CorporaTIon(下文简称“中芯长电”)的全部股本权益,约占目标公司已
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ATE系统助力多维度打造稳定高效的自动测试设备
多维度入手打造稳定高效的自动测试设备,迎接集成电路融合时代的机遇与挑战5G、人工智能、新能源等新技术的成熟驱动各行业加速数字化转型落地,从而持续推动全球半导体行业稳步增长。根据IC Insights半